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Titre du document / Document title

Reaching SEMI grade 5 purity levels in hydrogen peroxide with dynamic reaction cell ICP-MS technology

Auteur(s) / Author(s)

COLLARD J.-M. (1) ; KAWABATA Katsu (2) ; KISHI Yoko (2) ; THOMAS R. (3) ;

Affiliation(s) du ou des auteurs / Author(s) Affiliation(s)

(1) Solvay Interox, Brussels, BELGIQUE
(2) PerkinElmer Life and Analytical Sciences, 71 Four Valley Drive, Concord, ON, L4K 4V8, CANADA
(3) Scientific Solutions, Gaithersburg, MD, ETATS-UNIS

Revue / Journal Title

Atomic spectroscopy    ISSN  0195-5373   CODEN ASPND7 

Source / Source

2003, vol. 24, no2, pp. 49-56 [8 page(s) (article)] (14 ref.)

Langue / Language

Anglais

Editeur / Publisher

Perkin Elmer, Shelton, CT, ETATS-UNIS  (1980) (Revue)

Mots-clés anglais / English Keywords

Electronics industry

;

Mass spectrometry

;

Inductive coupling plasma spectrometry

;

Coupled method

;

Hydrogen peroxide

;

Inorganic element

;

Quantitative analysis

;

Multicomponent analysis

;

Chemical analysis

;

Purity control

;

Trace analysis

;

Mots-clés français / French Keywords

Industrie électronique

;

Spectrométrie masse

;

Spectrométrie ICP

;

Méthode couplée

;

Hydrogène peroxyde

;

Elément minéral

;

Analyse quantitative

;

Analyse multiélément

;

Analyse chimique

;

Contrôle pureté

;

Analyse trace

;

Mots-clés espagnols / Spanish Keywords

Industria electrónica

;

Espectrometría masa

;

Espectrometría ICP

;

Método acoplado

;

Elemento inorgánico

;

Análisis cuantitativo

;

Análisis multielemento

;

Análisis químico

;

Verificación pureza

;

Análisis huella

;

Localisation / Location

INIST-CNRS, Cote INIST : 14108, 35400011840791.0050

Nº notice refdoc (ud4) : 14868689



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